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Statistical length of DNA based on AFM image measured by a computer

  • X. Q. Chen
  • , Y. Zhang
  • , J. Hu
  • , S. Y. Wu
  • , Y. B. Huang
  • , X. B. Ai
  • , X. J. Qiu
  • , M. Q. Li

研究成果: 雜誌貢獻 › 文章 › 同行評審

指紋

深入研究「Statistical length of DNA based on AFM image measured by a computer」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式