超解析雷射掃描螢光校正尺規之開發(2/2)

點擴函數(Point Spread Function)是顯微鏡的首要功能指標。而長久以來，學界調配稀疏的螢光分子，以期待看到單一螢光材料(如：100nm 螢光球、獨立螢光分子)的出現，並藉此單一螢光材料去量測顯微鏡的點擴函數。而螢光材料容易自聚集(Aggregate)，故找尋單一獨立個體有如大海撈針；因其單一獨立，故容易被激發光破壞、漂白(Photobleaching)。因此，點擴函數量測非常不便、同時這樣的尺規無法重複使用。 然而Quantum dot是一種適合作為螢光顯微鏡的發光物質的材料，在期刊文獻中已漸漸被運用。因其有量子產率(High Quantum Yield)以致於有很強的發光、可以調整發光波長、同時不容易被光破壞，故成為螢光校正尺規的不二人選。 搭配正確的結構設計、封裝保存，我們可以發展一個良好的、高效率，同時耐久的校正尺規。在學術上，不僅可以驗證現行超解析(Super Resolution)螢光顯微鏡的點擴函數，同時有機會透過演算法的加成，帶領超解析的的技術到更微小的尺度。在產業上，全球顯微鏡的市場在2020年將達到58億美金，而我們的技術可以加速超解析螢光顯微鏡以及共軛焦螢光顯微鏡的普及，同時配與每台顯微鏡。搭配專利佈局，進而找到廠商進行技術轉移，預估將帶動硬體產業超過10億台幣的產值、軟體服務每年超過五千萬的收入，同時也促進業界、學界的良好合作循環。