超解析雷射掃描螢光校正尺規之開發(1/2)

點擴函數(Point Spread Function)是顯微鏡的首要功能指標。長久以來，學界調配稀疏的螢光分子， 以期待看到單一螢光材料(如：100nm 螢光球、獨立螢光分子)的出現，並藉此單一螢光材料去量測顯微鏡的 點擴函數。然而螢光材料容易自聚集(Aggregate)，故找尋單一獨立個體有如大海撈針；因其單一獨立，故 容易被激發光破壞、漂白(Photobleaching)。因此，點擴函數量測非常不便、同時這樣的尺規無法重複使用。 然而Quantum dot是一種適合作為螢光顯微鏡的發光物質的材料，在期刊文獻中已漸漸被運用。因其有 量子產率(High Quantum Yield)以致於有很強的發光、可以調整發光波長、同時不容易被光破壞，故成為螢 光校正尺規的不二人選。 搭配正確的結構設計、封裝保存，我們可以發展一個良好的、高效率，同時耐久的校正尺規。在學術上， 不僅可以驗證現行超解析(Super Resolution)螢光顯微鏡的點擴函數，同時有機會透過演算法的加成，帶領 超解析的技術到更微小的尺度。在產業上，全球顯微鏡的市場在2020年將達到58億美金，而我們的技術可以 加速超解析螢光顯微鏡以及共軛焦螢光顯微鏡的普及，同時配與每台顯微鏡。搭配專利佈局，進而找到廠商 進行技術轉移，預估將帶動硬體產業超過10億台幣的產值、軟體服務每年超過五千萬的收入，同時也促進業 界、學界的良好合作循環。